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X-Rite Ci7861 400nm Benchtop-Spektralphotometer

Produktinformationen

X-Rite Ci7860 Serie Benchtop-Spektralphotometer – Ultimative Messgenauigkeit und Kompatibilität

Die X-Rite Ci7860 Serie bietet überragende Geräteübereinstimmung und höchste Messgenauigkeit – ideal für globale Qualitätskontroll-Netzwerke mit mehreren Standorten.

Bei der Festlegung von Standards ist auf das branchenweit innovativste Farbmessgerät in seiner Klasse absolut Verlass. Mit einer Geräteübereinstimmung von max. 0,06 dE bietet das Ci7860 drastisch reduzierte Fehlerspannen bei Farbmessungen – um 25 % niedriger als bei Konkurrenzgeräten. Integrierte Temperatur- und Feuchtigkeitssensoren sorgen für Messungen unter kontrollierten Umgebungsbedingungen. Integrierte NetProfiler-Statusanzeigen prüfen, ob das Gerät für jede Messung optimiert ist. Die mit dem Ci7860 erstellten Standards können für jede Phase der Produktentwicklung genutzt werden – angefangen von der Rezeptierung bis zur endgültigen Produktion und Qualitätskontrolle.

Das Ci7860 bietet max. 5 Blenden für Reflexions- und 4 für Transmissionsmessungen von Farbe und Wirkung auf vielfältigen Proben – mit Messöffnung nach oben, unten und seitwärts. Zur Messung von strukturierten Materialien, unregelmäßig geformten Objekten, Flüssigkeiten, Pulvern und Gelen kann es mit verschiedenem Zubehör ausgestattet werden und nutzt bis zu 3 UV-Filter zur Kontrolle von optischen Aufhellern in Textilien, Kunststoffen, Farben, Lacken und Papier.

Mit automatischer, softwaregesteuerter Einrichtung sorgt das Ci7860 für die einheitliche Konfiguration an allen Standorten und verhindert mögliche Fehler. Die integrierte Digitalkamera mit Vorschau- und Laserzielfunktion nimmt Proben präzise ins Visier. Die Aufnahmen, auf denen Flecken, Kratzer oder Fehler später erkannt werden können, dienen zur Protokollierung aller Messdaten.

Technische Daten

EigenschaftWert
SchnittstellenUSB 2.0
Abmessungen56cm, 22cm, 31cm
NetProfilerYes
Luftfeuchtigkeit5% to 85%, non-condensing
Beleuchtungsfleck25mm, 17mm, 10mm, 6mm 3.5mm* (optional)
Geräteübereinstimmung0.06 ΔE*ab avg.
Lampenlebensdauer≥1,000,000 measurements
LichtquellePulsed Xenon, D65 calibrated
Messzykluszeit≈ 2.5 seconds
Messgeometried/8°
Messfleck/Apertur19mm, 10mm, 5mm, 2.5mm
Messzeit≈ 2.5 seconds
Betriebstemperatur5°C to 40°C
Photometrischer Bereich0 to 200%
Blenden4 std / 1 optional
Gewicht25kg
Kurzzeit-Wiederholbarkeit.01 ΔE*ab RMS on white ceramic
Spektralbereich360-780 nm

Anwendungsbereiche

  • Globale Supply-Chain-Farbkontrolle
  • Automotive OEM und Tier-1-Zulieferer
  • Referenzlabor und Mastermessungen
  • Materialabnahme und Wareneingangskontrolle
  • Kunststoff- und Lackindustrie
Unser Supportteam freut sich auf alle Anfragen und Anregungen und hilft gerne bei Fragen rund um das Produkt X-Rite Ci7861 400nm Benchtop-Spektralphotometer sowie weitere Artikel aus dem Bereich Farbmesstechnik / x-rite Familie. Sie erreichen uns werktags unter der +49 (0)208 696 008-40 oder über unser Kontaktformular.
Datenblätter
Broschüre X-Rite Ci7000 Serie

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Hersteller "X-Rite"
LUMESCA Group Limited
164 Clapgate Lane
B32 3DE Birmingham

info@lumesca.com

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