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X-Rite Ci7830 400nm Benchtop-Spektralphotometer

Produktinformationen

X-Rite Ci7800 Serie Benchtop-Spektralphotometer – Premium-Kugelmessung für höchste Ansprüche

Die X-Rite Ci7800 Serie ist das Premium-Segment der Ci7x00-Familie mit höchster Messgenauigkeit, UV-Kontrolle und optionaler Transmissionsmessung für anspruchsvollste Farb-Qualitätskontrolle.

Wie das Ci7600 kann das Ci7800 opake, transparente und lichtdurchlässige Proben messen. Doch dank seiner höheren Geräteübereinstimmung und Wiederholgenauigkeit ist es hervorragend für Hersteller geeignet, die auf die nahtlose Kommunikation und Koordination farbkritischer Werte und Spezifikationen angewiesen sind. In Kombination mit der Software X-Rite Color iQC zur Qualitätssicherung kann das Ci7800 schnell erkennen, ob eine Probe innerhalb des zulässigen Toleranzbereichs liegt, und gibt andernfalls sofort Rückmeldungen. Die integrierten NetProfiler-Statusanzeigen dienen zur Prüfung und Optimierung der Messleistung.

Das Ci7800 bietet max. 5 Blenden für Reflexions- und 4 für Transmissionsmessungen von Farbe und Wirkung auf vielfältigen Proben – mit Messöffnung nach oben, unten und seitwärts. Zur Messung von strukturierten Materialien, unregelmäßig geformten Objekten, Flüssigkeiten, Pulvern und Gelen kann es mit verschiedenem Zubehör ausgestattet werden und nutzt bis zu 3 UV-Filter zur Kontrolle von optischen Aufhellern in Textilien, Kunststoffen, Farben, Lacken und Papier.

Mit automatischer, softwaregesteuerter Einrichtung sorgt das Ci7800 für die einheitliche Konfiguration an allen Standorten und verhindert mögliche Fehler. Die integrierte Digitalkamera mit Vorschau- und Laserzielfunktion nimmt die Probe präzise ins Visier. Die Aufnahmen, auf denen Flecken, Kratzer oder Fehler später erkannt werden können, dienen zur Protokollierung aller Messdaten.

Technische Daten

EigenschaftWert
SchnittstellenUSB 2.0
Abmessungen56cm, 22cm, 31cm
NetProfilerJa
Luftfeuchtigkeit5% bis 85%, nicht kondensierend
Beleuchtungsfleck25mm, 17mm, 10mm, 6mm 3.5mm* (optional)
Geräteübereinstimmungdurchschn. 0.08 ΔE*ab
Lampenlebensdauer≥1,000,000 Messungen
LichtquelleXenon gepulst, D65 kalibriert
Messzykluszeit≈ 2.5 Sekunden
Messgeometried/8°
Messfleck/Apertur19mm, 10mm, 5mm, 2.5mm
Messzeit≈ 2.5 Sekunden
Betriebstemperatur5°C bis 40°C
Photometrischer Bereich0 bis 200%
Blenden4 / 1 optional
Gewicht25 kg
Kurzzeit-Wiederholbarkeit.01 ΔE*ab Wiederholgenauigkeit auf Weißkachel
Spektralbereich360nm-780nm

Anwendungsbereiche

  • Referenzlabor und Forschung
  • Automotive-Zulieferer
  • Hochpräzise Materialprüfung
  • Transmissionsmessung von Flüssigkeiten
  • Globale Mehrstandort-QC mit NetProfiler
Unser Supportteam freut sich auf alle Anfragen und Anregungen und hilft gerne bei Fragen rund um das Produkt X-Rite Ci7830 400nm Benchtop-Spektralphotometer sowie weitere Artikel aus dem Bereich Farbmesstechnik / x-rite Familie. Sie erreichen uns werktags unter der +49 (0)208 696 008-40 oder über unser Kontaktformular.
Datenblätter
Broschüre X-Rite Ci7000 Serie

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Hersteller "X-Rite"
LUMESCA Group Limited
164 Clapgate Lane
B32 3DE Birmingham

info@lumesca.com

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