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X-Rite Ci7630 400nm Benchtop-Spektralphotometer

Produktinformationen

X-Rite Ci7600 Serie Benchtop-Spektralphotometer – Erweiterte Kugelmessung mit UV-Kontrolle

Die X-Rite Ci7600 Serie bietet erweiterte Benchtop-Spektralphotometrie mit UV-Kontrolle (D65-kalibriert) für präzise Messungen auf Materialien mit optischen Aufhellern.

Das Ci7600 bietet die gleiche Geräteübereinstimmung und Wiederholgenauigkeit wie das Ci7500. Das optionale Transmissions-Kit ermöglicht jedoch totale und direkte Transmissionsmessungen mit verschiedenen Messfeldgrößen und hat eine Laserzielfunktion für die Messung kleiner Proben. Wie andere Modelle der Ci7000-Serie misst das Ci7600 Farbe und Wirkung gleichzeitig mit Glanzeinschluss (SPIN/SCI) und ohne Glanzeinschluss (SPEX/SCE). Die integrierten NetProfiler-Statusanzeigen dienen zur Prüfung und Optimierung der Messleistung.

Das Ci7600 bietet max. 5 Blenden für Reflexions- und 3 für Transmissionsmessungen von Farbe und Wirkung auf vielfältigen Proben – mit Messöffnung nach oben, unten und seitwärts. Zur Messung von strukturierten Materialien, unregelmäßig geformten Objekten, Flüssigkeiten, Pulvern und Gelen kann es mit verschiedenem Zubehör ausgestattet werden und nutzt bis zu 3 UV-Filter zur Kontrolle von optischen Aufhellern in Textilien, Kunststoffen, Farben, Lacken und Papier.

Das bedienerfreundliche Ci7600 mit LED-Statusanzeige von Echtzeitdaten minimiert Fehler dank automatischer, softwaregesteuerter Einrichtung. Die integrierte Digitalkamera hat eine Vorschau- und Laserzielfunktion. In Kombination mit der Software X-Rite Color iQC zur Qualitätssicherung kann es schnell erkennen, ob eine Probe innerhalb des zulässigen Toleranzbereichs liegt, und gibt andernfalls sofort Rückmeldungen.

Technische Daten

EigenschaftWert
SchnittstellenUSB 2.0
Abmessungen56cm, 22cm, 31cm
NetProfilerYes
Luftfeuchtigkeit5% to 85%, non-condensing
Beleuchtungsfleck25mm, 17mm*, 10mm, 6mm, 3.5mm*
Geräteübereinstimmung0.15 ΔE*ab avg.
Lampenlebensdauer≥1,000,000 measurements
LichtquellePulsed Xenon, D65 calibrated
Messzykluszeit≈ 2.5 seconds
Messgeometried/8°
Messfleck/Apertur19mm, 10mm, 5mm, 2.5mm
Messzeit≈ 2.5 seconds
Betriebstemperatur5°C to 40°C
Blenden3 std / 2 optional
Gewicht'25kg
Kurzzeit-Wiederholbarkeit.03 ΔE*ab RMS on white ceramic
Spektralbereich360nm-750nm

Anwendungsbereiche

  • Papier und Karton mit OBA
  • Weiße und pastellfarbene Textilien
  • Waschmittel und Reiniger
  • Kunststoffe mit Aufhellern
  • Pharma- und Verpackungsindustrie
Unser Supportteam freut sich auf alle Anfragen und Anregungen und hilft gerne bei Fragen rund um das Produkt X-Rite Ci7630 400nm Benchtop-Spektralphotometer sowie weitere Artikel aus dem Bereich Farbmesstechnik / x-rite Familie. Sie erreichen uns werktags unter der +49 (0)208 696 008-40 oder über unser Kontaktformular.
Datenblätter
Broschüre X-Rite Ci7000 Serie

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Hersteller "X-Rite"
LUMESCA Group Limited
164 Clapgate Lane
B32 3DE Birmingham

info@lumesca.com

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