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Produktinformationen
X-Rite CiF3200 Imaging Sphere Spektralphotometer – Bildgebende Farbmessung für Spezialanwendungen
Das X-Rite CiF3200 ist ein innovatives Imaging Sphere Spektralphotometer, das bildgebende Farbmessung mit Kugelgeometrie kombiniert – ideal für ortsaufgelöste Messungen auf gemusterten Flächen.
Der CiF3200 ist ideal für die Qualitätskontrolle von kleinen, unregelmäßig geformten oder mehrfarbigen Artikeln, einschließlich hochreflektierender Proben, mit einem minimalen Messbereich von nur 2 mm. Seine Funktionen, wie virtuelle Blenden, Bildschirmzielung und Mehrfarbenextraktion, garantieren konsistente Ergebnisse in verschiedenen Branchen, von Luxusgütern bis hin zu Unterhaltungselektronik.
Ganz gleich, ob Sie Luxusuhren, Kunststoffteile, Unterhaltungselektronik oder langlebige Gebrauchsgüter herstellen, sollten Sie durch die Festlegung und Kommunikation digitaler Standards für konstante Farbgebung selbst bei den kleinsten Komponenten sorgen. Nutzen Sie objektive, datengestützte Farbbeurteilung, um Ihren Prozess zur Qualitätskontrolle und -sicherung zu optimieren.
Mit der automatischen Funktion des CiF3200 zur Extraktion mehrerer Farben können Sie problemlos mehrere Farben auf einer einzigen Oberfläche analysieren. Angefangen von komplizierten Uhrenzifferblättern bis zu kleinen Kunststoffteilen erfassen Sie präzise Daten für jede Farbe und gewährleisten so die Farbharmonie zwischen Teilen. Perfekt zur Wahrung der Konstanz bei verschiedenen Materialien und Lieferanten.
Technische Daten
| Eigenschaft | Wert |
|---|---|
| Akku | No battery |
| Schnittstellen | USB |
| Abmessungen | 8.25" W x 10" H x 10" L |
| Luftfeuchtigkeit | 0-85% non-condensing |
| Beleuchtungsfleck | 16 mm |
| Display | No display |
| Geräteübereinstimmung | 0.15 DE* average on BCRA tiles (SPIN) |
| Lampenlebensdauer | 500,000 measurements |
| Lichtquelle | LED |
| Messgeometrie | d:8 sphere |
| Messzeit | 15 seconds |
| Betriebstemperatur | 10 to 40 °C |
| Kurzzeit-Wiederholbarkeit | 0.025 DE* (SPIN) |
| Spektralbereich | 400-700 nm @ 10 nm intervals |
| Gewicht | 8.8 pounds |
Anwendungsbereiche
- Textildruck und bedruckte Gewebe
- Verpackungsdruck mit Rastern
- Digitaldruck-Qualitätskontrolle
- Mustererkennung und Sortierung
- Flächenmessung auf inhomogenen Proben
164 Clapgate Lane
B32 3DE Birmingham
info@lumesca.com
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