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X-Rite Ci7500 Benchtop-Spektralphotometer

Produktinformationen

X-Rite Ci7500/Ci7510 Benchtop-Spektralphotometer – Hochpräzise Kugelmessung für industrielle QC

Die X-Rite Ci7500/Ci7510 Benchtop-Spektralphotometer bieten hochpräzise Kugelmessungen mit d/8° Geometrie und automatischer SCI/SCE-Umschaltung für die industrielle Farbqualitätskontrolle.

Als Einstiegsmodell der Ci7000-Serie zeichnet sich das Ci7500 durch die neueste Farbmesstechnologie und Datenbankkompatibilität aus. Es kann Farbe und Wirkung gleichzeitig mit Glanzeinschluss (SPIN/SCI) und ohne Glanzeinschluss (SPEX/SCE) auf lichtundurchlässigen Proben messen. Die Vorschaufunktion sorgt für den korrekten Probenmessbereich und speichert bei Kombination mit Color iQC ein Bild jeder Messung, sodass sämtliche Messdaten vollständig protokolliert werden. Die robusten, zuverlässigen und bedienerfreundlichen Geräte der Ci7000-Serie erhöhen die Produktivität und Verfügbarkeit in jeder Produktionsumgebung.

Das Ci7500 verfügt über 2 Blendenplatten für Reflexionsmessungen von Farbe und Wirkung auf vielfältigen Proben – mit Messöffnung nach oben, unten und seitwärts. Zur Messung von strukturierten Materialien, unregelmäßig geformten Objekten, Flüssigkeiten, Pulvern und Gelen kann es mit verschiedenem Zubehör ausgestattet werden und nutzt einen 400-nm-UV-Filter zur Kontrolle von optischen Aufhellern in Textilien, Kunststoffen, Farben, Lacken und Papier.

Das bedienerfreundliche Ci7500 mit leicht ablesbarer LED-Statusanzeige und raffinierten Verarbeitungsfunktionen bietet höchst präzise Farbmessungen. Es verfügt über mehrere Anschlüsse zur Anbindung an andere Geräte und ist zum Schutz vorhandener Daten rückwärtskompatibel mit älteren Datenformaten – perfekt für den Einsatz in der gesamten Lieferkette.

Technische Daten

EigenschaftWert
SchnittstellenUSB 2.1
Abmessungen56cm, 22cm, 31cm
NetProfilerYes
Luftfeuchtigkeit5% to 85%, non-condensing
Beleuchtungsfleck25mm, 10mm
Geräteübereinstimmung0.15 ΔE*ab avg.
Lampenlebensdauer≥1,000,000 measurements
LichtquellePulsed Xenon, D65 calibrated
Messzykluszeit≈ 2.5 seconds
Messgeometried/8°
Messfleck/Apertur19mm, 5mm
Messzeit≈ 2.5 seconds
Betriebstemperatur5°C to 40°C
Photometrischer Bereich0% to 200%
Blenden2 std / 0 optional
Gewicht25kg
Kurzzeit-Wiederholbarkeit.03 ΔE*ab RMS on white ceramic
Spektralbereich360nm-750nm

Anwendungsbereiche

  • Lacke und Beschichtungen
  • Kunststoffe und Polymere
  • Textilien und Gewebe
  • Chemische Rohstoffe
  • Pharma und Kosmetik
Unser Supportteam freut sich auf alle Anfragen und Anregungen und hilft gerne bei Fragen rund um das Produkt X-Rite Ci7500 Benchtop-Spektralphotometer sowie weitere Artikel aus dem Bereich Farbmesstechnik / x-rite Familie. Sie erreichen uns werktags unter der +49 (0)208 696 008-40 oder über unser Kontaktformular.
Datenblätter
Broschüre X-Rite Ci7000 Serie

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Hersteller "X-Rite"
LUMESCA Group Limited
164 Clapgate Lane
B32 3DE Birmingham

info@lumesca.com

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